影像測量儀應用之半導體芯片微小尺寸精密檢測方案

近年來，隨著貿易戰(zhàn)競爭愈演愈烈，大量投資涌入半導體行業(yè)，企業(yè)面對這一現狀，愈是要通過影像測量儀等精密儀器嚴苛把控半導體微小尺寸的檢測，做好產品品質，才能在大浪淘沙中存留。

為了滿足半導體客戶高品質測量要求，七海推出Optiv Reference高精度影像儀高精度大行程光學測量方案解決微小尺寸的高精度測量需求，助力客戶在該產業(yè)領域的研發(fā)實力。

Optiv Reference高精度影像儀是七海影像測量儀中的“佼佼者”，測量精度一馬當先，傳感器豐富，所有軸上都有空氣軸承，測量精度在亞微米范圍內，機器可以配備革命性的OPTIV雙Z軸設計，通過在兩個獨立的垂直軸上安裝觸發(fā)和發(fā)光傳感器，減少設置和檢查時間。

通過不斷驗證完成后，影像團隊對設備方案進行調整，整合集團全球資源。推薦的高精度Optiv Reference 10103（E1=0.3+L/600μm ；E2=0.6+L/600μm）影像測量儀最終得到客戶的認可，并確認采購Optiv Reference復合式影像測量儀?？蛻舯硎荆?ldquo;在短時間內完成設備評估，超出了我的預期，我對七海的設備有了更高標準的認知，是可信賴的合作伙伴！”

通過采用旗下Optiv Reference高精度復合式影像測量儀來進行尺寸測量驗證，進一步提升了客戶在研發(fā)階段對微小尺寸測量的可靠性，助力公司在行業(yè)內形成標桿。同時也增加了七海對各行業(yè)檢測難點深入研究的案例。